JTP-SAB002 (eBT 4UP)

产品简介:

适合于5G手机、平板、路由器、智能音箱耳机、AR/VR眼镜等产品的主板产线功能测试。支持射频校准综测、基带电压电流校准测试、OTG、开关机电流、快充等主板功能测试。

在原先2UP的基础,优化并多叠加两个箱体,使其在同样的设备规格中,空间利用率最大化。

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  • 屏蔽外部电磁波干扰源;
  • 背部预留10 PCS SMA直通可接射频线;
  • 接口部分有USB、DB25、DB15、DB9;
  • 气动开关仓,速度可调;
  • 监控关仓气压值,预防夹手;
  • 消静电接地排;
  • 射频隔离度:(600M-6GHz)> 70 dB
  • 设备整体规格:1000mm*600mm*1760mm(L*W*H)
  • 箱体规格:370mm*260mm*328mm(L*W*H)