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JTP-CTR120紧缩场微波暗室
室外远场测量时长遇到对准困难、保密性差、测量对气候条件要求高等问题，为解决
这些问题，紧缩场测试系统被提出。由于远场天线测量的条件是要使天线表面的最大相位
差达到22.5°，即要使待测天线的最小距离大于临界值。这个距离随着天线运行频率的上
升而不断增大。紧缩场测量技术就是在这个背景下提出来的一个应对高频天线测量的解决
方案。
这些问题，紧缩场测试系统被提出。由于远场天线测量的条件是要使天线表面的最大相位
差达到22.5°，即要使待测天线的最小距离大于临界值。这个距离随着天线运行频率的上
升而不断增大。紧缩场测量技术就是在这个背景下提出来的一个应对高频天线测量的解决
方案。
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系统指标
1).频率范围：24GHz～120GHz；
2).暗室尺寸： 5*4*3m；
3).静区尺寸：0.6m×0.6m ；
4).反射面尺寸：1.2m（W）×1.2m（H），投影尺寸 ；
5).静区反射电平：≦-45dB@24~120GHz；
6).交叉极化隔离度：≤-25dB；
7).测试点最小间隔：≤0.01° ；
8).可测产品重量（含工装）：≤20kg；
9).屏蔽效能：24GHz~120GHz，≥90dB
